FIS4 Ultraviolet Wavefront -anturi 200-400NM

FIS4 Ultraviolet Wavefront -anturi 200-400NM

SeBojiongFIS4 UV Wavefront -anturi 200-400nm on erikoistunut instrumentti, joka on suunniteltu tarkkaan mittauksiin 200–400 nm: n UV- ja syvissä UV-kaistoissa. Hyödyntämällä UV-parannettua havaitsemismoduulia ja UV-resistenttiä optiikkaa, anturi ylläpitää erittäin korkeatasoista 512 × 512 avaruusresoluutiota ja parempaa kuin 2NM RMS-vaiheen mittaustarkkuus jopa lyhyillä aallonpituuksilla. Omistettu satunnaisesti koodattu ritilän ja korkean suorituskyvyn rekonstruointialgoritmi,FIS4 UV Wavefront -anturitarjoaa erinomaisen häiriöiden immuniteetin, tarkan mittauksen suorituskyvyn ja laajan teollisuuden yhteensopivuuden, mikä mahdollistaa vakaan sovelluksen monissa monimutkaisissa skenaarioissa.

BojiongFIS4 UV Wavefront -anturi 200-400nm Esittely

ThänBojiong  FIS4 Ultraviolet Wavefront -anturi 200-400NM on yrityksemme uusi sukupolvi tarkasta optisia tarkastuslaitteita. Se noudattaa ISO 9001 -laadunhallintajärjestelmän standardeja, ja sen sertifioidaan Kiinan metrologian instituutti (NIM). Sen mukana tulee yhden vuoden laatutakuu. Se FIS4 UV Wavefront -anturiHyödyntää ainutlaatuista UV: n yhteisen polun interferometrirakennetta ja korkean dynaamisen optisen suunnittelun, mikä johtaa erinomaiseen värähtelynkestävyyteen ja stabiilisuuteen. Ilman ylimääräistä värähtelyn eristysmittauksia se tuottaa erittäin toistettavia ja luotettavia mittauksia vaativissa sovelluksissa, kuten litografiakoneen optisen kalibroinnin, UV -mikromakkeen ja biokemiallisen testauksen. Plug-and-play-toimenpide varmistaa helpon käytön ja kunnossapidon.

BojiongFIS4 UV Wavefront -anturi 200-400nm Parametri (spesifikaatio)

BojiongFIS4 UV Wavefront -anturi 200-400nm Ominaisuus ja sovellus

Vuodesta 2006 professori Yang Yongyingin ryhmä Zhejiangin yliopistossa on omistautunut 17 vuotta laaja-alaisen FIS4-sarjan kehittämiseenaaltofrontianturit, perustuu yhteisen polun interferometriaarkkitehtuuriin ja reaaliaikaiseen aaltofrontin rekonstruointialgoritmeihin. Anturit tarjoavat seuraavat avainominaisuudet:

· Optisen tärinän eristämistä ei tarvita, varmistaen voimakkaan ympäristön sopeutumiskyvyn

· Enintään 2 nm RMS -vaiheen resoluutio poikkeuksellisen tarkkuuden saavuttamiseksi

· Yhden optisen polun suunnittelu eliminoi viitevalon tarpeen, mahdollistaen plug-and-play-toiminnan

· Kompakti suunnittelu helpon integroinnin ja käyttöönoton saavuttamiseksi

SeFIS4 Ultraviolet Wavefront -anturi 200-400NMon suunniteltu sovelluksille tarkkuusoptisessa prosessoinnissa, puolustus- ja puolijohteiden valmistuksessa. Korkealla resoluutiolla 512 × 512 (262,144) vaihepistettä, laaja spektrivaste 200–400 nm: stä ja 10-kehyksen täyden resoluution reaaliaikaisesta 3D-näytöstä, se tarjoaa erittäin luotettavan aaltofrostantinratkaisun sovelluksille, kuten optisen järjestelmän aberraation mittaus, optinen kalibrointi, wafer-pintatarkastus ja optinen spektinen pinta-analyysi.

BojiongFIS4 UV Wavefront -anturi 200-400nm Soveltaminen

BojiongFIS4 UV Wavefront -anturi 200-400nm Yksityiskohdat

Se FIS4 Ultraviolet Wavefront -anturi 200-400NMperustuu satunnaisesti koodatun neljän aallon diffraktion patentoituun tekniikkaan, mikä mahdollistaa todellisen yhden palkkien itseharjoituksen mittauksen. Tämä tekniikka yksinkertaistaa merkittävästi optisen polun rakennetta ja tukee paitsi laservalonlähteitä, myös laaja-alaisia ​​valonlähteitä, kuten LED-levyjä ja halogeenilamppuja.FIS4 UV Wavefront -anturi Sillä on erinomainen resistenssi ympäristöhäiriöille ja hän voi saavuttaa stabiilin mittauksen nanomittakaavan tarkkuudella tavallisissa kokeellisissa ympäristöissä ilman tärinän eristyslaitteita. Verrattuna Hartmann -antureihin, jotka perustuvat mikrolensien taulukoihin,FIS4 UV Wavefront -anturi saavuttaa merkittäviä parannuksia useissa suorituskyvyn mittoissa: korkeampi vaihepisteiden resoluutio (jopa 262 144 pistettä), laajempi spektrin sopeutumisalue, suurempi mittausdynamiikka -alue ja ilmeiset edut kattavassa kustannustehokkuudessa.

Kuva.

Kuva.

SeFIS4 Wavefront Senser Se on noussut tehokkaana ja erittäin monipuolisena tarkkuustyökaluna tieteellisessä tutkimuksessa ja teollisuustarkastuksessa sen kompaktin rakenteen, korkean ympäristön kestävyyden, erinomaisen ajallisen resoluution ja vahvan yhteensopivuuden vuoksi olemassa olevien mikroskopiajärjestelmien kanssa. Aluksi sitä käytettiin ensisijaisesti perinteisissä optisissa työpajojen testausskenaarioissa, mukaan lukien optisen elementin pinnan profilointi, lasersäteen laadun arviointi ja adaptiiviset optiikan järjestelmän korjaukset. Nykyään sen sovellusalue on laajentunut merkittävästi, kattaen monipuoliset huippuluokan kentät, kuten biolääketieteellinen kuvantaminen, nanohiukkasten lokalisointi, metasurface-karakterisointi ja jopa lämpötilan gradientin mittaus.

SeFIS4 Wavefront -anturi Sisältää erittäin integroidun suunnittelun, joka mahdollistaa helpon integroinnin erilaisiin mikroskopiaalustoihin nopeaa käyttöönottoa varten. Erinomainen värjäytymisen vastainen suorituskyky varmistaa vakaan interferometrisen mittaustarkkuuden ja toistettavuuden jopa ankarissa ympäristöissä. Laite tukee yhden altistumisen aaltofrontin hankintaa, joka kaappaa luotettavasti nopeat dynaamiset prosessit ohimenevälle ilmiötutkimukselle. Biolääketieteellisissä sovelluksissa FIS4 on onnistuneesti mahdollistanut etikettivapaan, korkearesoluutioisen reaaliaikaisen kuvantamisen erilaisissa elävissä soluissa-mukaan lukien COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK ja neuronisolut-tarjoamalla tehokkaan työkalun solujen dynamiikkatutkimuksiin.

LisäksiFIS4 Wavefront -anturi Tukee vaiheen hidastumiskuvausta, joka voi tuottaa korkean kontrastikuvia anisotrooppisista biologisista kudoksista ja solujen rakenteista, kuten kollageenikuiduista ja sytoskeletalisista verkoista. Tämä tekniikka ei rajoitu näkyvään valokaistoon, vaan se on laajennettu vaihekuvaukseen röntgen-aaltoisuudessa (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkäaaltoisuuteen (MWIR) ja pitkäaikaisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen (MWIR) ja pitkään aaltoisuuteen. Monispektrinen ja monitieteinen tutkimus. Viime vuosina,    FIS4 Wavefront -anturi on myös löytänyt tärkeitä sovelluksia uusien materiaalien, kuten meta-pinnan moduloinnin ja kaksiulotteisten materiaalien optisten ominaisuuksien karakterisoinnin, tutkimuksessa, mikä heijastaa täysin sen monimuotoisia arvoja ja potentiaalia edistyneen optiikan ja materiaalitieteen aloilla.