Kehitetty erityisesti kätevään interferometriseen mittaukseen teollisuudessa, tieteellisessä tutkimuksessa ja maanpuolustuksessa. 300 × 300 (90 000) vaihepisteen korkea resoluutio, 400-1100 nm leveä spektrivaste, 10 ruutua täyden resoluution reaaliaikaista 3D-tulosnäyttöä, joka tarjoaa ihanteellisen aaltorintaman mittaustyökalun lasersäteen aaltorintaman havaitsemiseen, mukautuva optiikka, optinen järjestelmä kalibrointi, optisen ikkunan tunnistus, optisen tason pinnan muoto, pallomaisen pinnan muodon mittaus, pinnan karheus, pinta mikroääriviivojen tunnistus jne.
FIS4 HR korkearesoluutioinen neliaaltointerferometrianturikäyttää patentoitua satunnaiskoodattua neliaaltodiffraktiotekniikkaa saavuttaakseen yksikanavaisen mitatun aaltorintaman itsehäiriön, ja häiriötä esiintyy takakuvatason kohdassa. Sillä on alhaiset vaatimukset valonlähteen koherenssille, se ei vaadi vaiheensiirtoa ja sillä voidaan saavuttaa interferometrinen mittaus käyttämällä tavallista kuvantamisjärjestelmää. Sillä on erittäin korkea tärinänkestävyys ja erittäin korkea vakaus, ja se voi saavuttaa nm-tason tarkkuuden ilman tärinän eristystä. Verrattuna Hartmann-mikrolinssisarjaan, siinä on enemmän korkearesoluutioisia vaihepisteitä, laajempi mukautuva kaista-alue, suurempi dynaaminen alue ja parempi kustannustehokkuus.
Pääominaisuudet
◆ 300×300 (90 000) vaihepisteen korkea resoluutio
◆ Yksisuuntainen valon itsehäiriö, vertailupeiliä ei tarvita
◆ Laajaspektri 400nm ~ 1100nm kaista
◆ 2nm RMS korkea vaiheresoluutio
◆ Erittäin vahva tärinänkestävyys, optista tärinäneristystä ei tarvita
◆ Yksinkertainen ja nopea häiriövalon polun rakenne
◆ Tukee kollimoituja säteitä ja suuria NA-yhtyviä säteitä
Tuotesovellukset
Lasersäteen aaltorintaman tunnistus, adaptiivinen optiikka, tasopinnan mittaus, optisen järjestelmän kalibrointi, optisen ikkunan tunnistus, optinen taso, pallomaisen pinnan mittaus, pinnan karheuden tunnistus.
