Erittäin korkearesoluutioinen aaltorintaman anturi

Ultra High Resolution Wavefront Sensor, jossa on 512 × 512 ultrakorkea resoluutio, saavuttaa datan nanometritason tarkkuuden, mikä takaa kattavan kattavuuden yksityiskohtaista analyysia varten. Sen laaja spektrivastealue 400 - 1100 nanometriä tekee siitä sopivan erilaisiin valonlähteisiin. Lisäksi se tarjoaa reaaliaikaisen täyden resoluution 3D-tulosnäytön nopeudella 10 kuvaa sekunnissa, mikä tarjoaa dynaamisen ja välittömän näkymän aaltorintaman tiedoista. Tämä tekee siitä kattavan ratkaisun aaltorintaman tunnistus- ja mittaustarpeisiin.

Tuotteen erittely:

BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront -anturin ominaisuus

◆Erittäin korkea 512×512 (262144) vaihepisteen resoluutio

◆Yksikanavainen valo itsehäiriö, vertailuvaloa ei tarvita

◆ Aivan kuten kuvantaminen, helppo ja nopea optisen polun rakentaminen

◆Laajaspektri 400nm ~ 1100nm kaista

◆2nm RMS korkea vaiheresoluutio

◆Erittäin korkea tärinänkestävyys, optista tärinäneristystä ei tarvita

◆Tukee kollimoituja säteitä ja suuria NA konvergoituja säteitä

 BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront -anturin käyttö

Tätä BOJIONG-ultrakorkearesoluutioinen aaltorintaman tunnistin, jota käytetään lasersäteen aaltorintaman tunnistuksessa, mukautuvassa optiikassa, pinnan muodon mittauksessa, optisen järjestelmän kalibroinnissa, optisen ikkunan havaitsemisessa, optisessa tasossa, pallomaisen pinnan muodon mittauksessa ja pinnan karheuden havaitsemisessa.

BOJIONG Ultra High Resolution Wavefront-anturin tiedot

BOJIONGUultra High ResolutionWavefront Sensor, jonka on kehittänyt professoriryhmä Zhejiangin yliopistosta ja Nanyangin teknologisesta yliopistosta Singaporessa. Se yhdistää diffraktion ja häiriöt yhteisen neljän aallon poikittaisleikkaushäiriön saavuttamiseksi sekä erinomaisella tunnistusherkkyydellä ja tärinänestoteholla. ja voi toteuttaa reaaliaikaisen ja nopean dynaamisen interferometrian ilman tärinän eristystä. Reaaliaikainen mittaus näyttää yli 10 kuvan kuvanopeuden. Samaan aikaan FIS4-anturin erittäin korkea vaiheresoluutio on 512 × 512 (260 000 vaihepistettä), mittauskaista kattaa 200 nm ~ 15 μm, mittausherkkyys saavuttaa 2 nm ja mittauksen toistettavuus on parempi kuin 1/1000 λ ( RMS). Sitä voidaan käyttää lasersäteen laatuanalyysiin, plasmavirtauskentän havaitsemiseen, nopean virtauskentän jakauman reaaliaikaiseen mittaukseen, optisen järjestelmän kuvanlaadun arviointiin, mikroskooppisen profiilin mittaamiseen ja biologisten solujen kvantitatiiviseen vaihekuvaukseen.