FIS4 Sell-W Wavefront -anturi

FIS4 Sell-W Wavefront -anturilla on plug-and-play-malli, joka on saumattomasti yhteensopiva sekä läheisen infrapuna- että LED-valkoisen valon spektrin valaistuksen kanssa.  Sen innovatiivinen kuvantamismenetelmä kiertää merkinnät tai värjäytymisen tarpeen, mikä mahdollistaa 3D -kuvantamisen in vivo -kuvannon вечатлий -kehysnopeudet, jopa 24 kehystä sekunnissa.  Integroidut vaivattomasti mihin tahansa optiseen mikroskooppiin, se tuottaa reaaliaikaisia ​​mittauksia kohdesolujen 3D-vaiheen jakautumisesta.  Lisäksi anturi helpottaa solumäärän ja painon arviointia.  Tämä bojiong-anturi tulee välttämättömäksi työkaluna etikettivapaiden 3D-elävien solujen havaitsemiseen, biologiseen kudosanalyysiin, sukusolujen tutkimukseen ja mikro/nanorakenteen karakterisointiin.

 Eritelmä

Ominaisuus

◆ Leveä spektri 400nm ~ 1100nm kaista

◆ Kompakti koko, pistoke ja pelaaminen

◆ 100% kotimaassa

◆ Yhden reunan kevyt itseharjoittelu, viitevaloa ei vaadita

◆ Sopii kaikkien optisten mikroskoopien päivitykseen ja laajentamiseen

◆ Erittäin voimakas tärinänkestävyys, ei tarvita optisen tärinän eristystä

◆ Tukea LED-valkoinen valo ja lyhyen aallon infrapunavalonlähteet

 Soveltaminen

Tämä FIS4 Sell-W Wavefront -anturi, jota käytetään merkitsemään vapaat 3D-elävän solujen havaitsemisen, biologisen kudoksen havaitsemisen, sukusolujen havaitsemisen, mikro- ja nanorakenteen havaitsemisen.

FIS4 Sell-W Wavefront -anturin yksityiskohdat

Bojiong FIS4 Sell-W Wavefront -anturi, jonka on kehittänyt Zhejiangin yliopiston professoriryhmä ja Singaporen Nanyangin teknologinen yliopisto, hyödyntää kotimaisen patentoitua tekniikkaa ja yhdistää diffraktion ja puuttumisen yhteisten neljän aallon poikittaisleikkaushäiriöiden saavuttamiseksi. Anturilla on erinomainen havaitsemisherkkyys ja anti-värjäytymisen suorituskyky, ja se voi saavuttaa reaaliaikaisen nopean dynaamisen häiriömittauksen ilman tärinän eristämistä. Reaaliaikainen mittaus näyttää kehyksenopeuden yli 10 kuvaa sekunnissa. Lisäksi FIS4-anturin erittäin korkea vaihe resoluutio on 512 × 512 (260 000 vaihepistettä), mittauskaista kattaa 400 nm-1100 nm, mittausherkkyys saavuttaa ≤2Nm ja mittauksen toistettavuus on parempi kuin 1/1000λ (RMS). Se soveltuu lasersäteen laatuanalyysiin, plasman virtauskentän havaitsemiseen, nopean virtauksen jakautumiskentän reaaliaikaiseen mittaukseen, optiseen järjestelmän kuvan laadun arviointiin, mikroskooppisen profiilin mittaukseen, kvantitatiiviseen kvantitatiiviseen analyysiin. Biologisen solun faasin kuvantaminen.